高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱:
可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測(cè)試條件,搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性編程系統(tǒng),提供最佳測(cè)試性能條件,廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應(yīng)性,特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力
符合標(biāo)準(zhǔn):
1、GB10592-2008 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度變化)
2、GBT10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
4. GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 試驗(yàn) B:高溫試驗(yàn)方法
5. GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-78:2001) 試驗(yàn) Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法
6. GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-30:2005) 試驗(yàn) Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
7. GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-4) 試驗(yàn) Cb:交變濕熱試驗(yàn)方法
8. GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC68-2-14) 試驗(yàn) N:溫度變化
9. GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)方法
10.GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)方法
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